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v|tome|x m X射線微聚焦CT系統用于工業過程控制和科研應用。 該系統可以進行向下1米內的詳細探測，提供300千伏下業內的放大倍率，并以其GE的高動態DXR數字探測器陣列和點擊與測量|CT（click & measure|CT）自動化功能成為工業檢測和科研的有效的三維工具。 該系統具備雙|管配置，可以為各種樣本范圍提供詳細的三維信息： 從低吸收樣品的高分辨率nanoCT?到渦輪葉片檢驗等的高功率CT應用。

v|tome|x m X射線微聚焦CT系統

主要功能：

緊湊型300kV微焦點CT系統，可進行<1米的詳細探測

300kV時的行業的吸收樣品放大倍率

高功率CT和高分辨率nanoCT?的*的雙管配置

易用性源于帶自動的點擊和測量|CT選項的先進的phoenix datos|x CT軟件

優化的CT采集條件、帶溫度穩定的X射線管的的三維計量包、數字探測器陣列柜，以及高精度的直接測量系統

顧客利益：

高精度3D測量和以少的操作員培訓執行的非破壞性測試任務

具有高功率X射線管，高效、快速探測技術和高級自動化，使產量增加

具有*的GE DXR探測器陣列（高達30幀）的極快速CT數據采集功能，圖像非常清晰。

所有主要硬件和系統的CT軟件組件GE技術專有，優化后互相兼容